DUT에서 실제 파형 확인 가능

특허받은InstaView™ 기술로 오실로스코프, 프로브 또는 추가 장비 없이도 AFG의 DUT(피시험 장치)에서 직접 실제 파형을 확인할 수 있으므로 테스트 시간과 비용을 줄일 수 있으며 테스트 결과에 일치하지 않는 임피던스가 나타날 위험을 없앨 수 있습니다.

 

1 분 이내에 더블 펄스 테스트

AFG31000은 빌트인 더블 펄스 테스트 소프트웨어가 포함된 최초의 함수 발생기입니다. 이제 터치스크린 화면에서 바로 1분 이내에 다양한 펄스 폭(20ns~150s)으로 2개의 파형을 생성할 수 있습니다. 외부 PC 애플리케이션이나 수동 프로그래밍이 필요하지 않습니다.

 

스위칭 매개 변수를 측정하고 MOSFET 및 IGBT 전력 장치 동적 동작을 평가합니다.

 

어드밴스 모드의 고품질 신호

제품에서 바로 채널당 최대 16Mpts에 달하는 긴 정밀 파형을 연속으로 생성할 수 있습니다. 가변 샘플링 클럭 기술을 사용하면 파형 데이터가 전혀 손실되지 않습니다. 추후 업그레이드를 통해 테스트를 원하는 만큼 향상시킬 수 있으며, 기존 AWG 비용의 10분의 1만으로 복잡한 파형을 프로그래밍할 수 있습니다.

 

선택적으로 업그레이드하여 다음 기능을 사용할 수 있습니다.

 

- 채널당 128Mpts로 메모리 확장(옵션 MEM)

- 유연한 복합 타이밍에 따라 긴 파형을 작성하기 위한 최대 25가지 항목 및 컨트롤(브랜치, 반복, 대기, 점프, 이동, 외부 트리거, 수동 트리거, 타이밍된 트리거 및 SCPI 명령)

 

간소화된 ARB 파형 생성

내장 arb 편집 도구인 ArbBuilder에는 ARB 파형을 생성, 편집 및 전달하기 위한 모든 작업이 포함되어 있으므로 별도로 PC에 연결하거나 파일을 전송할 필요가 없습니다. 진폭 및 오프셋 데이터가 파형에 저장되므로, 정규화된 arb를 로드한 후에 설정을 조절할 필요가 없습니다.

 

스마트 사용자 인터페이스

시중에 나와 있는 제품 중 가장 큰 AFG 터치스크린으로 더 빠르게 학습하고 더 빠르게 작업할 수 있습니다. 9인치 화면이 스마트 장치처럼 작동하므로, 핀치, 줌 및 스크롤을 통해 간소화된 메뉴에서 설정 및 매개 변수를 쉽게 찾을 수 있고, 자주 사용하는 설정의 바로 가기를 찾을 수 있습니다.

 

두 개 이상의 채널이 필요하십니까?

DUT(피시험 장치)를 시뮬레이션하기 위해 두 개 이상의 파형 채널이 필요한 경우 다중 동기화를 사용하여 두 개 이상의 장비를 손쉽게 동기화할 수 있습니다. 화면상에서 셋업Wizzard를 통해서 3분 이내에 케이블 연결 및 설정 프로세스를 확인할 수 있습니다.

 

노이즈 및 지터를 10배까지 감소

낮은 노이즈 층 및 1mVpp 수준의 낮은 출력 진폭을 통해 노이즈 및 지터 사양이 지난 세대 기술보다 10배 더 개선되었으며 테스트 명확도와 충실도가 보장됩니다.

모델	아날로그 채널	출력 주파수	레코드 길이	샘플링 속도	수직 해상도
AFG31021	1	25MHz	16MSa/ch	250MS/s	14비트
AFG31051	1	50MHz	16MSa/ch	500MS/s	14비트
AFG31022	2	25MHz	16MSa/ch	250MS/s	14비트
AFG31052	2	50MHz	16MSa/ch	500MS/s	14비트
AFG31101	1	100MHz	16MSa/ch	1GS/s	14비트
AFG31151	1	150MHz	16MSa/ch	2GS/s	14비트
AFG31102	2	100MHz	16MSa/ch	1GS/s	14비트
AFG31152	2	150MHz	16MSa/ch	2GS/s	14비트
AFG31251	1	250MHz	16MSa/ch	2GS/s	14비트
AFG31252	2	250MHz	16MSa/ch	2GS/s	14비트