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TDR(제품상세보기)

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TDR DSA8300
100fs 미만의 고유 지터를 통해 매우 정확하게 장치를 특성화할 수 있는 DSA8300 시리즈는 광통신 표준, 시간 도메인 반사계 및 S 파라미터를 포괄적으로 지원합니다. DSA8300 디지털 샘플링 오실로스코프는 155Mb/sec에서 400G PAM4 범위의 데이터 통신을 위한 완전한 고속 PHY 계층 테스트 플랫폼입니다.
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 특징

 장점

 전기 모듈 신호 측정 정확도:

 

  • Ultra-low system jitter (<100 fs, typical)
  • > 70GHz

 100fs 미만의 고유 지터를 통해 테스트 장비에서 사용 중인, 5% 미만의 신호 단위 간격을 가진 일반적으로 높은 비트 속도(40 및 100(4´25)Gb/s) 장치를 특성화할 수 있습니다. 70GHz 대역폭을 통해 높은 비트 속도 신호를 완전히 특성화할 수 있습니다(28Gb/sec 데이터 속도에 대해 다섯 번째 고조파, 45Gb/sec 이상의 데이터 속도에 대해 세 번째 고조파).

 모든 대역폭에서 업계 최저 시스템 노이즈 발생:

 

  • 최대 600V(일반 450V) @ 60GHz
  • 최대 380V(일반 280V) @ 30GHz

 높은 비트 속도, 낮은 진폭 신호 획득 시 장비 노이즈를 최소화하여 추가 지터 및 아이 닫힘으로 보일 수 있는 추가 노이즈를 제거합니다.

 단일 메인프레임의 100fs 미만 지터에서 최대 6개의 채널 동시에 획득

 여러 디퍼런셜 채널에 대해 높은 충실도의 획득이 가능하여 교차 채널 손상을 테스트할 수 있으며, 여러 고속 시리얼 채널을 포함한 시스템의 테스트 처리량이 향상됩니다.

 광 모듈에서 155Mb/s - 100Gb/s(4x25) 이더넷의 모든 표준 속도에 대해 옵틱 컴플라이언스 테스트 지원

 850, 1310 및 1550nm의 경우 155Mb/s(OC3/STM1)에서 시작하여 40Gb/s(SONET/SDH 및 40GBase 이더넷)와 100Gb/s 이더넷(100GBase-SR4, -LR4 및 ER4)에 이르기까지 단일 및 다중 모드 광학 표준에 대해 비용 효율적이고 기능이 다양한 광학 테스트 시스템을 제공합니다.

 최대 300kS/s까지의 샘플링 속도로 뛰어난 획득 처리량

 뛰어난 시스템 처리량으로 제조 또는 장치 특성화 관련 테스트 시간이 4배 단축되었습니다.

 DUT(테스트 대상 장치)에 인접하여 샘플러 배치

 원격 샘플링 헤드가 DUT에서 장비까지의 케이블 연결 및 고정으로 인한 신호 저하를 최소화하고 테스트 시스템 제외를 간소화합니다.

 독립적인 교정된 채널 지연시간 보정 지원

 듀얼 채널 모듈에서 채널 지연시간 보정이 통합, 교정되어 스큐를 제거함으로써 여러 채널 측정 시 신호 충실도가 개선됩니다.

 

데이터시트

https://kr.tek.com/datasheet/dsa8300-digital-serial-analyzer-sampling-oscilloscope

The DSA8300 is a state-of-the-art Equivalent Time Sampling Oscilloscope that provides the highest fidelity measurement and analysis capabilities for Communications Signal Analysis, Serial Data Network Analysis, and Serial Data Link Analysis applications.

Key performance specifications
  • Very low time base jitter:
    • 425 fs typical on up to 8 simultaneously acquired channels
  • Industry’s highest vertical resolution 16 bit A/D
  • Electrical resolution:
  • Optical resolution from
  • Optical bandwidths to >80 GHz
  • Electrical bandwidths to >70 GHz
  • Over 120 automated measurements for NRZ, RZ, and pulse signal types
  • Automated mask testing with over 80 industry-standard masks
Key features

A wide variety of optical, electrical, and accessory modules support your specific testing requirements.

  • Optical modules
    • Fully integrated optical modules that support optical data rates from 155 Mb/s to 100 Gb/s
    • Certified optical reference receivers support specified requirements for standards-mandated compliance testing
    • Optical bandwidths to >80 GHz
    • High optical sensitivity, low noise, and wide dynamic range of the optical sampling modules allows accurate testing and characterization of short-reach to long-haul optical communications standards
    • Fully calibrated clock recovery solutions no need to manually calibrate for data pick-off losses
    • Calibrated extinction ratio measurements ensure repeatability of extinction ratio measurements to
  • Electrical modules
    • Very low-noise electrical samplers (280 μV at 20 GHz, 450 μV at 60 GHz, typical)
    • Selectable bandwidths 1 allow the user to trade-off sampler bandwidth and noise for optimal data acquisition performance
    • Remote samplers 2 or compact sampling extender module cables support minimal signal degradation by allowing the sampler to be located in close proximity to the device under test
    • High-performance integrated TDR (10 ps typical step rise time) supports exceptional impedance discontinuity characterization and high dynamic range for S-parameter measurements to 50 GHz
  • Analysis
    • Complete suite of over 120 automated measurements for NRZ, RZ, and pulse signal types
    • Automated mask testing with over 80 industry-standard masks. New masks can be imported into the DSA8300 to support new emerging standards. Users can define their own masks for automated mask testing
    • Vertical and horizontal histograms for waveform statistical analysis
    • Vertical, horizontal, and waveform cursors (with measurements)
    • Jitter, noise, BER, mask testing, and Serial Data Link Analysis (SDLA) are provided through the 80SJNB Essentials and Advanced Software Application Options
    • Advanced TDR analysis, S-parameter measurements, simulation model extraction, and serial link simulation capabilities are provided by the IConnect® Software Application options
  • High test throughput
    • High sample acquisition rate up to 300 kS/s per channel
    • Efficient programmatic interface (IEEE-488, Ethernet, or local processor access) enables high test throughput

1 With 80E07B, 80E08B, 80E09B, 80E10B, 80E11, and 80E11X1 modules.

2 80E07B, 80E08B, 80E09B and 80E10B only.

Applications
  • Design/Verification of telecom and datacom components and systems
  • Manufacturing/testing for ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH compliance
  • High-performance true-differential TDR measurements
  • Impedance characterization and network analysis for serial data applications including S-parameters
  • Advanced jitter, noise, BER and SDLA analysis
  • Channel and eye diagram simulation and measurement-based modeling with IConnect.
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