측정 주파수 : 4Hz - 5MHz
임피던스 아날라이저
● LCR 측정, DCR 측정 스윕(sweep) 측정의 연속 측정과 고속 검사를 1대로 실현
● LCR 모드에서 최속 1.5 ms(1 kHz) 및 0.5 ms (100 kHz)의 고속 측정
● 기본 정확도 ± 0.08 %의 고정밀도 측정
● 압전 소자의 공진 특성 검사, 기능성 고분자 콘덴서의 C-D와 저 ESR 측정, 인덕터(코일ㆍ트랜스)의 DCR와 L-Q 측정 등에 최적
● 아날라이저 모드로 주파수 스윕 측정, 레벨 스윕 측정, 시간 인터벌 측정이 가능
|
측정 모드 |
LCR(LCR 측정), 분석기(스윕 측정), 연속 측정 |
|
측정 파라미터 |
Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, Rdc (직류 저항) X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
|
측정 범위 |
100 mΩ~100 MΩ, 12 레인지 (모든 파라미터는 Z로 규정) |
|
표시 범위 |
Z, Y, Rs, Rp, Rdc X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp : ± (0.000000 [단위] ~9.999999 G [단위] Z,Y만 절대값 표시 θ : ± (0.000 ° ~180.000 °) D : ± (0.000000~9.999999) Q : ± (0.00~99999.99), Δ % : ± (0.0000 % ~999.9999 %) |
|
기본 정확도 |
Z : ± 0.08 % rdg. θ : ± 0.05 ° |
|
측정 주파수 |
4 Hz~5 MHz (설정 분해능 5자리 분해능, 단 최소 분해능 10 mHz) |
|
측정 신호 레벨 |
통상 모드 : V 모드, CV 모드 : 5mV~5Vrms (1MHz까지) 10mV~1Vrms (1.0001MHz~5MHz) 1mVrms 단계 CC 모드 : 10μA~50mArms (1MHz까지) 10μA~10mArms (1.0001MHz~5MHz) 10μArms 단계 저 임피던스 고정밀도 모드 V 모드, CV 모드 : 5mV~1Vrms (100kHz까지) 1mVrms 단계 CC 모드 : 10μA~100mArms (100kHz까지의 100mΩ와 1Ω 레인지), 10μArms 단계 |
|
출력 임피던스 |
통상 모드 : 100 Ω, 저 임피던스 고정밀도 모드 : 10 Ω |
|
디스플레이 |
컬러 TFT 5.7 inch, 표시 ON / OFF 설정 가능 |
|
측정 시간 |
0.5 ms (100 kHz, FAST, 디스플레이 OFF, 대표값) |
|
기능 |
DC 바이어스 측정, 콤퍼레이터, BIN 측정(분류 기능), 패널 로드/세이브, 메모리 기능 |
|
인터페이스 |
EXT I / O (핸들러) RS-232C, GP-IB, USB 통신, USB 메모리, LAN |
|
전원 |
AC 90~264 V, 60 Hz, 150 VA max |
|
치수 · 질량 |
330W × 119H × 307D mm, 5.8 kg |
|
부속품 |
전원 코드 × 1, 사용설명서 × 1, 통신 사용설명서 (CD-R) × 1 |